Journal of Experimental and Theoretical Physics
HOME | SEARCH | AUTHORS | HELP      
Journal Issues
Golden Pages
About This journal
Aims and Scope
Editorial Board
Manuscript Submission
Guidelines for Authors
Manuscript Status
Contacts


ZhETF, Vol. 155, No. 1, p. 103 (January 2019)
(English translation - JETP, Vol. 128, No. 1, January 2019 available online at www.springer.com )

Эффект увеличения размеров пентамеров при сканирующей туннельной микроскопии: роль поверхностных радикалов
Жачук Р.А., Кутиньо Ж.

Received: July 7, 2018

DOI: 10.1134/S0044451019010085

PDF (3356.7K)

Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) является одним из наиболее мощных инструментов для определения атомной структуры поверхности. Однако интерпретация изображений микроскопии с высоким разрешением не однозначна. В этой статье мы описываем физический механизм формирования СТМ-изображений, исходя из которого можно предположить такие положения атомов, которые будут существенно отличаться от наблюдаемых. Описанный эффект часто не учитывается экспериментаторами, работающими с СТМ. Показано, что такие искаженные СТМ-изображения формируются в присутствии поляризованных поверхностных радикалов, наклоненных под значительным углом к нормали к поверхности. В этой работе эффект проиллюстрирован на примере увеличения размеров пентамеров, наблюдаемых на поверхностях (110), (113) и (331) с помощью СТМ.

 
Report problems